Nieuws:

Welkom, Gast. Alsjeblieft inloggen of registreren.
Heb je de activerings-mail niet ontvangen?

Auteur Topic: Buffer I/O errors in logboeken  (gelezen 832 keer)

Offline Allard

  • Lid
Buffer I/O errors in logboeken
« Gepost op: 2014/12/01, 22:17:00 »
Ik ervaar op de PC een apart probleem. Soms wanneer ik mijn externe schijven uitwerp in Ubuntu dan worden er de volgende errors in de logboeken gegooid.

Buffer I/O error on device sdX, logical block XX
Waar de X voor de schijf staat en de XX voor de block nummer. Echter heb ik op beide schijven een SMART test gedaan en deze zijn gewoon in orde. Ook gebeurt dit alleen wanneer er data naar de schijven is geschreven. Wanneer ik ze gewoon in plug en er niks naartoe laat schrijven en vervolgens weer uitwerp dat komt dit probleem niet voor. Het maakt ook niet uit op welke USB poort ze aangesloten zitten aangezien het probleem hem op elke USB poort voorkomt. Ik heb recentelijk nog een derde externe schijf gekocht en deze vertoont het probleem ook alleen maar op de PC.

Echter is het zo dat de laptop dit probleem niet laat zien, nou is dus mijn vraag; hoe serieus moet ik deze meldingen nemen aangezien beide schijven gewoon goed functioneren?

Offline jan11000

  • Lid
Re: Buffer I/O errors in logboeken
« Reactie #1 Gepost op: 2014/12/01, 22:30:12 »
Van internet,
kha
February 1st, 2010, 04:51 AM
I finally found the solution... Actually the Western Digital Portable Essential SE 1TB hard drive has a hardware encryption. When the disk is plugged, it creates two distinct drives (not two partitions): one read-only (UDF - cdrom) to install encryption tools and setup the other drive.

When you first plug the disk, It ask you to format it and prompt you for a password. Then, the only way to have the second disk seen is to unlock the drive.

But I discovered today that you have then the option to disable password protection. This reformat the drive and let it being accessed as a normal usb drive even from Linux.

So I finally achieved to copy all my bootable linux distros (ubuntu, backtrack, slax, slitaz, ...) working with persistent changes onto !

Thank you !

Wat zegt smart van de hd, dus niet een test, maar de data die je van de hd kunt zien?
Hoe heb je de hd geformateert? doe eens formateren met linux in ext4, heb je dan nog steeds problemen?
« Laatst bewerkt op: 2014/12/01, 22:34:12 door jan11000 »

Offline Allard

  • Lid
Re: Buffer I/O errors in logboeken
« Reactie #2 Gepost op: 2014/12/01, 22:53:58 »
Dit is de eerste SMART van de back up HDD. Merk op dat dit een Seagate is:

allard@ubuntu-pc-allard:~$ sudo smartctl -a -d sat /dev/sdc
smartctl 6.2 2013-07-26 r3841 [x86_64-linux-3.13.0-40-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-13, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Seagate Barracuda 7200.14 (AF)
Device Model:     ST2000DM001-1E6164
Serial Number:    W1E4L469
LU WWN Device Id: 5 000c50 0699b20fc
Firmware Version: CC45
User Capacity:    2,000,398,934,016 bytes [2,00 TB]
Sector Sizes:     512 bytes logical, 4096 bytes physical
Rotation Rate:    7200 rpm
Device is:        In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is:   ATA8-ACS T13/1699-D revision 4
SATA Version is:  SATA 3.0, 6.0 Gb/s (current: 3.0 Gb/s)
Local Time is:    Mon Dec  1 22:46:52 2014 CET

==> WARNING: A firmware update for this drive may be available,
see the following Seagate web pages:
http://knowledge.seagate.com/articles/en_US/FAQ/207931en
http://knowledge.seagate.com/articles/en_US/FAQ/223651en

SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
Warning: This result is based on an Attribute check.

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: (  592) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x73) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
No Offline surface scan supported.
Self-test supported.
Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: (   1) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 234) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time: (   2) minutes.
SCT capabilities:        (0x3081) SCT Status supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 10
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x000f   114   100   006    Pre-fail  Always       -       73107792
  3 Spin_Up_Time            0x0003   097   095   000    Pre-fail  Always       -       0
  4 Start_Stop_Count        0x0032   100   100   020    Old_age   Always       -       164
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
  7 Seek_Error_Rate         0x000f   058   057   030    Pre-fail  Always       -       8591384992
  9 Power_On_Hours          0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       80
 10 Spin_Retry_Count        0x0013   100   100   097    Pre-fail  Always       -       0
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   100   100   020    Old_age   Always       -       128
183 Runtime_Bad_Block       0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
184 End-to-End_Error        0x0032   100   100   099    Old_age   Always       -       0
187 Reported_Uncorrect      0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
188 Command_Timeout         0x0032   100   099   000    Old_age   Always       -       0 0 6
189 High_Fly_Writes         0x003a   099   099   000    Old_age   Always       -       1
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0022   078   049   045    Old_age   Always       -       22 (Min/Max 20/22)
191 G-Sense_Error_Rate      0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       46
193 Load_Cycle_Count        0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       400
194 Temperature_Celsius     0x0022   022   051   000    Old_age   Always       -       22 (0 15 0 0 0)
197 Current_Pending_Sector  0x0012   100   100   000    Old_age   Always       -       0
198 Offline_Uncorrectable   0x0010   100   100   000    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x003e   200   200   000    Old_age   Always       -       0
240 Head_Flying_Hours       0x0000   100   253   000    Old_age   Offline      -       57h+28m+39.033s
241 Total_LBAs_Written      0x0000   100   253   000    Old_age   Offline      -       2695276834
242 Total_LBAs_Read         0x0000   100   253   000    Old_age   Offline      -       4503943027

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged.  [To run self-tests, use: smartctl -t]


SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.


De andere wordt gebruikt voor de virtuele machines:

allard@ubuntu-pc-allard:~$ sudo smartctl -a /dev/sdc
[sudo] password for allard:
smartctl 6.2 2013-07-26 r3841 [x86_64-linux-3.13.0-40-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-13, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Western Digital My Passport (USB)
Device Model:     WDC WD5000BMVV-11SXZS1
Serial Number:    WD-WXQ1AC052093
LU WWN Device Id: 5 0014ee 656372e9b
Firmware Version: 01.01A01
User Capacity:    500,107,862,016 bytes [500 GB]
Sector Sizes:     512 bytes logical, 4096 bytes physical
Rotation Rate:    5400 rpm
Device is:        In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is:   ATA8-ACS (minor revision not indicated)
SATA Version is:  SATA 2.6, 3.0 Gb/s
Local Time is:    Mon Dec  1 22:50:45 2014 CET
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
Warning: This result is based on an Attribute check.

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: (14460) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x7b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 143) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time: (   5) minutes.
SCT capabilities:        (0x7035) SCT Status supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x002f   200   200   051    Pre-fail  Always       -       0
  3 Spin_Up_Time            0x0027   172   151   021    Pre-fail  Always       -       2358
  4 Start_Stop_Count        0x0032   098   098   000    Old_age   Always       -       2158
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   200   200   140    Pre-fail  Always       -       0
  7 Seek_Error_Rate         0x002e   200   200   000    Old_age   Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0032   098   098   000    Old_age   Always       -       1905
 10 Spin_Retry_Count        0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
 11 Calibration_Retry_Count 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       720
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032   200   200   000    Old_age   Always       -       368
193 Load_Cycle_Count        0x0032   187   187   000    Old_age   Always       -       40928
194 Temperature_Celsius     0x0022   125   102   000    Old_age   Always       -       22
196 Reallocated_Event_Count 0x0032   200   200   000    Old_age   Always       -       0
197 Current_Pending_Sector  0x0032   200   200   000    Old_age   Always       -       0
198 Offline_Uncorrectable   0x0030   100   253   000    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0032   200   200   000    Old_age   Always       -       0
200 Multi_Zone_Error_Rate   0x0008   100   253   000    Old_age   Offline      -       0

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged.  [To run self-tests, use: smartctl -t]


SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

De derde externe schijf ligt momenteel op een andere locatie dus daar kan ik niet bij. Alle schijven zijn NTFS geformatteerd. Ik heb één van de schijven laatst opnieuw geformatteerd (weliswaar in NTFS) maar ik denk niet dat het bestandssysteem er iets mee te maken heeft aangezien dit probleem alleen voorkomt op de PC.

Op het moment van uitwerpen dit keer wederom geen errors omdat er niks naartoe is geschreven.
« Laatst bewerkt op: 2014/12/01, 22:58:56 door Allard »

Offline Johan van Dijk

  • Administrator
    • johanvandijk
Re: Buffer I/O errors in logboeken
« Reactie #3 Gepost op: 2014/12/02, 17:03:41 »
Van die eerste Seagate zijn er wel 2 waarden die gek zijn:
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x000f   114   100   006    Pre-fail  Always       -       73107792
  7 Seek_Error_Rate         0x000f   058   057   030    Pre-fail  Always       -       8591384992

Ik weet verder niet of zij een hele aparte manier hebben van het bijhouden van SMART-waarden, maar deze 2 vertrouw ik niet zo.
Het hebben van veel fouten kan wijzen op een hardwareprobleem: een defect in de schijf zelf of een slechte kabel (stroom of data). Dit kan van je computer naar de behuizing gaan of binnen de behuizing zelf.

Ik zou die schijf checken met een tool van de fabrikant:
http://www.seagate.com/support/internal-hard-drives/desktop-hard-drives/barracuda/

Met de optie -t short van smartctl kan je een SMART test doen op de schijf zonder de programma's van Seagate, maar die geeft niet altijd een definitief resultaat. Een lange test is ook mogelijk maar die zal ook echt lang (echt uren) duren verwacht ik.

Die WD heeft een hoge load cycle count:
193 Load_Cycle_Count        0x0032   187   187   000    Old_age   Always       -       40928
Die moet je in de gaten houden, als die snel op blijft lopen dan verkort dat de levensduur van je schijf.

Offline Allard

  • Lid
Re: Buffer I/O errors in logboeken
« Reactie #4 Gepost op: 2014/12/02, 18:53:53 »
Vreemd hoor, nu probeer ik een video opname te maken van het probleem en dan gebeurt het niet. Ik hou dit wel even in de gaten want ik vind dit vreemd.

Die Seagate geeft inderdaad vreemde waarden, hoe gek het ook klinkt dat is normaal denk ik. Ik had een aantal maanden geleden ook al eens een SMART gepost op Tweakers tevens van een Seagate, daar werd het volgende verteld:

Citaat
Je plaatje doet het niet...
Maar gezien je beklag, raad ik dat je een Seagate schijf hebt... Je bent niet de eerste die hierover struikelt, kijk maar door dit hele topic heen...

Die schijven doen dingen bijhouden in die RAW waardes voor zichzelf en Seagate... Elk sectortje dat gelezen wordt wordt zo goed als gelogged en weergegeven daarin...
Daaruit komt een waarde rollen die onder "Current" staat. Hetgeen waar je ook op hoort te letten bij die parameter ;)

Dus met de RAW waardes van Seek/Read error rate heeft een gewone consument geen drol mee te maken, om even simpel te zeggen..

En die andere schijf is 4 jaar oud dus dat kan wel kloppen dat die zo'n hoge load cycle count geeft. ;)